暫態熱阻量測系統

提供T3Ster® TeraLED® 自動光學測試設備之量測服務，其可獲取熱 / 光兩方面特性的資料。T3Ster 為所測的 LED 提供電力並且控制和評估暫態熱測試，T3Ster® TeraLED® 檢測所測設備的光學和輻射特性。

T3Ster是一款先進的半導體器件封裝熱特性測試儀器，在數分鐘內提供各類封裝的熱特性資料，因其配備專業的設備和軟體其解析技術強大及快速，獲得IC設計、封測廠與LED製造商的好評與採用。

TeraLED 量測硬體包含了完整的光學量測系統，能夠測定光度 (photometric) 以及光輻射特性 (radiometric)。TERALED可與T3Ster暫態熱性能量測儀器整合，使用上符合 JEDEC JESD51 系列及 CIE 127-2007 的量測規範。

DynTIM ( Dynamic Thermal Interface Material Tester )是目前熱介面材料量測技術中最先進的設備。搭配 T3Ster 使用，建立針對 TIM 熱傳測試的高精度量測環境，可自動化量測具可壓縮性的材料，如 Grease，Pastes，Soft Pads，Phase Change Materials。

MicReD® Industrial Power Tester 1500A產品，主要應用於功率循環(Power cycling)和熱特性的量測，可用來模擬並量測電子元件的使用壽命及效能，並能提供即時(Real time)的故障原因診斷資訊。

MicReD® Power Tester 600A 產品，其在功率循環中能測試電動和混合動力車(EV/HEV) 的功率半導體器件的可靠性。滿足業內對於功率電子技術熱仿真和測試的需要，能實現無與倫比的精確性和可擴展性。